Structural characterization by HRXRD and Raman scattering of AlxGa1_ xSb/GaSb heterostructure

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Detalhes bibliográficos
Autor: Diaz Reyes, Joel
Formato: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2012
País:México
Recursos:Instituto Politécnico Nacional
Repositorio:Repositorio Digital del IPN
OAI Identifier:oai:www.repositoriodigital.ipn.mx:123456789/8602
Acesso em linha:http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/8602
Access Level:acceso abierto
Palavra-chave:Ternary alloy; Liquid phase epitaxy; X-ray diffraction; Raman Scattering; A!GaSb;
Descrição
Resumo:article