Improving the Reliability of Conductive Atomic Force Microscopy
Programa de Doctorat en Nanociències
| Autor: | |
|---|---|
| Formato: | tesis doctoral |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2024 |
| País: | España |
| Recursos: | CBUC, CESCA |
| Repositorio: | TDR. Tesis Doctorales en Red |
| OAI Identifier: | oai:www.tdx.cat:10803/690847 |
| Acesso em linha: | http://hdl.handle.net/10803/690847 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | Microscòpia de força atòmica Microscopía de fuerza atómica Atomic force microscopy Ciències Experimentals i Matemàtiques 53 |
| Resumo: | Programa de Doctorat en Nanociències |
|---|