Enhancing resolution, efficiency, and understanding in IR and THz near-field microscopy

122 p.

Detalhes bibliográficos
Autor: Mastel, Stefan
Formato: tesis doctoral
Fecha de publicación:2018
País:España
Recursos:Universidad del País Vasco
Repositorio:Addi. Archivo Digital para la Docencia y la Investigación
OAI Identifier:oai:addi.ehu.eus:10810/32218
Acesso em linha:http://hdl.handle.net/10810/32218
Access Level:acceso abierto
Palavra-chave:infrared radiation
microscopes
spectroscopy
radiación infrarroja
microscopios
espectroscopia óptica