Test estructural i predictiu per a circuits RF CMOS

En aquesta tesi s'ha desenvolupat una tècnica de test que permet testar un LNA i un mesclador, situats en el capçal RF d'un receptor CMOS, en una configuració de test semblant al mode normal de funcionament.<br/>La circuiteria necessària per a implementar aquesta tècnica consta d...

ver descrição completa

Detalhes bibliográficos
Autor: Suenaga Portuguès, Kay
Tipo de documento: tese
Estado:Versão publicada
Data de publicação:2008
País:España
Recursos:CBUC, CESCA
Repositório:TDR. Tesis Doctorales en Red
OAI Identifier:oai:www.tdx.cat:10803/9431
Acesso em linha:http://www.tdx.cat/TDX-0114109-123349
http://hdl.handle.net/10803/9431
Access Level:Acceso aberto
Palavra-chave:CMOS
RF
analog test
sequential test
current testing
predictive test
Structural test
cabezal RF
mezclador
LNA
amplificador operacional
test secuencial
test analógico
test de corriente
test predictivo
Test estructural
capçal RF
mesclador
test seqüencial
test analògic
test de corrent
test predictiu
operational amplifier
mixer
RF front-en
Tecnologia electrònica
536
537
Descrição
Resumo:En aquesta tesi s'ha desenvolupat una tècnica de test que permet testar un LNA i un mesclador, situats en el capçal RF d'un receptor CMOS, en una configuració de test semblant al mode normal de funcionament.<br/>La circuiteria necessària per a implementar aquesta tècnica consta d'un generador IF, per a generar el senyal IF de test, i d'un mesclador auxiliar, per a obtenir el senyal RF de test.<br/>Les observables de test escollides han estat l'amplitud de la tensió de sortida del mesclador i el component DC del corrent de consum.<br/>S'ha estudiat l'eficàcia de la tècnica de test proposada utilitzant les estratègies de test estructural i predictiu, mitjançant simulacions i mesures experimentals. La seva eficàcia és comparable a altres tècniques de test existents, però l'àrea addicional dedicada a la circuiteria test és inferior.