Un nuevo enfoque para el análisis de datos supervisado en entornos de sistemas embebidos: un estudio de caso

Hoy en día, la implementación de sistemas embebidos con sensores para la recolección masiva de datos se ha vuelto ampliamente utilizada debido a su flexibilidad y a la mejora en la toma de decisiones. Sin embargo, este proceso puede verse afectado por errores en la lectura, desgaste de los sistemas,...

Full description

Bibliographic Details
Authors: Godoy Trujillo, Pamela E., Rosero Montalvo, Paul D., Suárez Zambrano, Luis E., Peluffo Ordoñez, Diego H., Revelo Fuelagán, Edgardo Javier
Format: article
Status:Published version
Publication Date:2020
Country:Ecuador
Institution:Universidad Técnica del Norte
Repository:Repositorio Universidad Técnica del Norte
Language:English
OAI Identifier:oai:repositorio.utn.edu.ec:123456789/18618
Online Access:https://repositorio.utn.edu.ec/handle/123456789/18618
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-030-52249-0_29
Access Level:Open access
Keyword:Análisis de datos
Datos de sensores
Sistemas embebidos
Data analysis
Sensor data
Embedded systems
Description
Summary:Hoy en día, la implementación de sistemas embebidos con sensores para la recolección masiva de datos se ha vuelto ampliamente utilizada debido a su flexibilidad y a la mejora en la toma de decisiones. Sin embargo, este proceso puede verse afectado por errores en la lectura, desgaste de los sistemas, entre otros factores. Para ello, se presenta un enfoque de selección de algoritmos supervisados con un criterio de selección de prototipos, que permite un desempeño adecuado del sistema embebido. Para lograrlo, se estableció una medida de calidad que compromete la reducción de datos del conjunto de entrenamiento, el tiempo de procesamiento del algoritmo y el desempeño de clasificación. Como resultado, se determinó que el algoritmo para la selección de datos es Condensed Nearest Neighbors (CNN) y el algoritmo de clasificación es k-Nearest Neighbour (k-NN).