Propiedades asociadas a la estructura local en sistemas nanométricos: estudio mediante el empleo de técnicas basadas en el uso de luz de sincrotrón
En este trabajo de tesis, utilizamos las técnicas de absorción de luz sincrotrón con el objeto de investigar las propiedades asociadas a aspectos estructurales y electrónicos en sistemas de tamaños reducidos de aplicación en los campos de la catálisis y el magnetismo. Nuestro método de estudio de es...
| Author: | |
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| Format: | doctoral thesis |
| Status: | Versión aceptada para publicación |
| Publication Date: | 2009 |
| Country: | Argentina |
| Institution: | Universidad Nacional de La Plata |
| Repository: | SEDICI (UNLP) |
| Language: | Spanish |
| OAI Identifier: | oai:sedici.unlp.edu.ar:10915/2621 |
| Online Access: | http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2621 https://doi.org/10.35537/10915/2621 |
| Access Level: | Open access |
| Keyword: | Ciencias Exactas XAFS; XANES; PCA; in situ; ZnFe<SUB>2</SUB>O<SUB>4</SUB>; MnO<SUB>2</SUB>; Ni<SUB>2</SUB>P Magnetismo Ciencias Físicas Catálisis Nanotecnología |
| Summary: | En este trabajo de tesis, utilizamos las técnicas de absorción de luz sincrotrón con el objeto de investigar las propiedades asociadas a aspectos estructurales y electrónicos en sistemas de tamaños reducidos de aplicación en los campos de la catálisis y el magnetismo. Nuestro método de estudio de estos sistemas consistió en el empleo de la técnica de Absorción de Rayos X Cercana al Borde de Absorción (XANES), se realizaron tanto experimentos como simulaciones computacionales y tratamiento estadístico de espectros cuando resultó pertinente y necesario. Dichas metodologías nos permitieron indagar sobre las propiedades estructurales y electrónicas de diferentes nanomateriales, obteniendo un cúmulo de información únicamente accesible por esta técnica gracias a su selectividad química y su alta sensibilidad al entorno atómico local del átomo absorbente. Nuestra contribución original consistió en el aprovechamiento y la adaptación de instrumentación XANES para el seguimiento in situ de procesos y transformaciones en sistemas nanoestructurados, estableciendo correlaciones fundamentales entre las características electrónicas y estructurales de diferentes elementos de un sistema nanoscópico y su vinculación con propiedades extendidas tales como reactividad y magnetismo. |
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