Citação norma APA

Tello Ruiz, M., García-Pérez, F., & García García, R. (2002). Linewidth determination in local oxidation nanolithography of silicon surfaces.

Citação norma Chicago

Tello Ruiz, Marta, Fernando García-Pérez, y Ricardo García García. Linewidth Determination in Local Oxidation Nanolithography of Silicon Surfaces. 2002.

Citação norma MLA

Tello Ruiz, Marta, Fernando García-Pérez, y Ricardo García García. Linewidth Determination in Local Oxidation Nanolithography of Silicon Surfaces. 2002.

Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.