Fiorelli, R., & Peralías Macías, E. (2016). Semi-empirical RF MOST model for CMOS 65 nm technologies: Theory, extraction method and validation.
Citação norma ChicagoFiorelli, Rafaella, y Eduardo Peralías Macías. Semi-empirical RF MOST Model for CMOS 65 Nm Technologies: Theory, Extraction Method and Validation. 2016.
Citação norma MLAFiorelli, Rafaella, y Eduardo Peralías Macías. Semi-empirical RF MOST Model for CMOS 65 Nm Technologies: Theory, Extraction Method and Validation. 2016.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.